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IC卡芯片頂破試驗(yàn)機(jī)測控系統(tǒng)可進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲、剝離、低周疲勞等項(xiàng)物理力學(xué)試驗(yàn)；計(jì)算機(jī)、控制顯示任意段在過程中的Z大力值、Z小力值、平均值等；可根據(jù)客戶產(chǎn)品要求按GB、DIN、ISO、JIS、ASTM等標(biāo)準(zhǔn)和國外標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)